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簡要描述:雙光束紫外可見分光光度計UV762/762PC型是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計。采用了全新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計、微機控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學(xué)分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高;光譜數(shù)據(jù)處理功能強;采用中文人機對話、操作方便;儀器外形美觀大方。
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雙光束紫外可見分光光度計UV762/762PC型
儀器特點和功能
1. 全新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學(xué)性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
2. *的氘燈和鎢燈安裝 、光源自動切換及自動尋找*位置的設(shè)計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
3. 優(yōu)良的軟件設(shè)計和編制,使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能:自動掃描測量光譜、多波長(1-3λ)測定、動力學(xué)測定、1-3次曲線擬合、1-4階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
4. 采用大屏幕中文窗口顯示、具有良好的人機對話界面。
雙光束紫外可見分光光度計UV762/762PC型
特點:
波長驅(qū)動:自動
光度范圍:0-999.9%(T),-4A~4A,0-9999C,1-9999F
波長范圍:190nm~1100nm
雜散光:≤0.05%(T) (220nm NaI,360nm NaNO2)
波長準確度:≤±0.3nm
波長重復(fù)性:≤0.1nm
光譜帶寬:2nm
基線平直度:±0.002A(200nm~1000nm)
漂移:≤0.004A/h(500nm處,預(yù)熱2小時)
掃描速度:快 中 慢
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